掃描狹縫光束輪廓儀在一個線性光電探測器前移動兩個正交狹縫，穿過被分析的光束。穿過狹縫的光線會在探測器中產(chǎn)生電流。因此，當狹縫掃描光束時，探測器信號與沿狹縫集成的空間光束輻照度剖面成線性比例。數(shù)字編碼器可提供準確的狹縫位置。通過對光感應電流信號進行數(shù)字化和分析，可從兩個正交狹縫中獲得 X 和 Y 方向的光束輪廓。狹縫孔徑可作為物理衰減器，在大多數(shù)光束應用中可防止探測器飽和。高動態(tài)范圍放大允許光束功率在多個數(shù)量級上運行。從這些剖面圖中可以確定重要的空間信息，如光束寬度、光束位置、光束質(zhì)量和其他特征。這種技術可以適應各種測試條件。由于狹縫掃描儀在高功率下測量光束，幾乎沒有衰減，因此適合用于材料加工過程中的光束剖面測量。二氧化碳（CO₂）激光器廣泛用于材料加工，其波長為 10.6 μm，大多數(shù)相機都無法對其進行剖面測量。因此，狹縫掃描儀為測量功率高達或超過 1000 W的高分辨率 CO₂ 激光提供了一種便捷的方法。NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，準確捕獲和分析190 至 1100 nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，適合于對UV、VIS和NIR激光進行分析。

光束尺寸7 µm 至 ~2.3 mm

功率級范圍為~10 nW 至 ~10 W

USB 2.0接口

包含NanoScan標準或軟件

• NanoScan Standard：NanoScan Standard 是我們的全功能軟件，具有一套廣泛的 NIST 可追溯 ISO 光束寬度和圓度、光束位置和 M2 測量功能，以及一個可定制的界面，具有客戶期望的易用性和靈活性。
• NanoScan Professional：NanoScan Professional 具有 NanoScan Standard 的所有功能。NanoScan Professional 支持我們所有的掃描狹縫剖面儀，但包括一個用 ActiveX 編寫的自動化界面，可將數(shù)據(jù)推送到您的自定義應用程序。

PH00456：NS2s-SI/3.5/1.8-STD狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

PH00464：NS2s-Si/3.5/1.8-PRO狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫

PH00417：狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測器，3.5 mm孔徑，1.8 µm狹縫

產(chǎn)地：美國

傳感器類型：硅光電探測器

光譜范圍：190 至 1100 nm

狹縫尺寸：1.8 µm

孔徑尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 μm 至 2.3 mm

掃描頭尺寸：83 mm

功率范圍：10 nW 至 10 W

通信：USB 2.0

支持的操作系統(tǒng)：Windows 7 (64) 和 Windows 10

信號數(shù)字化：16 位

Max數(shù)字化時鐘：21.4 MHz

Max更新率：20 Hz

數(shù)據(jù)傳輸：大容量傳輸模式

板載內(nèi)存：64 MB mDDR SDRAM

重量：434 g（15.3 盎司）

工作溫度：0 至 50 ℃

濕度：90 %，無冷凝

掃描頭尺寸（長×直徑）：76.8 x 63.5 mm

符合認證：CE、UKCA、中國 RoHS

適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等、對UV、VIS和NIR激光進行分析