Ophir 寬光束成像儀：WB-I 是用于光束輪廓分析相機(jī)的緊湊型校準(zhǔn)附件，可測量來自 VCSEL、LED 和平行光束等光源的發(fā)散和大直徑光束的尺寸和功率分布。它采用一個(gè) 45 毫米的擴(kuò)散板，將光源發(fā)出的光束投射到擴(kuò)散板上。然后將圖像縮小 8 倍，重新成像到相機(jī)焦平面上。VCSEL、LED 和光纖激光器被用于許多敏感的應(yīng)用中。為了保證設(shè)備的高質(zhì)量，須對(duì)光束輪廓進(jìn)行分析，但這些發(fā)散的寬光束對(duì)測量系統(tǒng)提出了特殊要求，傳統(tǒng)光束輪廓儀的孔徑太小，無法收集到大光源或發(fā)散光源的整個(gè)光斑。發(fā)散光束無法用普通探測器進(jìn)行準(zhǔn)確測量，因?yàn)樘綔y器的量子效率與入射角有很大關(guān)系。WB-I 結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、便于攜帶，可在客戶現(xiàn)場為 VCSEL 和 LED 系統(tǒng)提供光束輪廓測量服務(wù)，也可在生產(chǎn)線和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。與標(biāo)準(zhǔn)光束輪廓儀傳感器的 15° 角度測量相比，WB-I 可進(jìn)行高達(dá) 70° 角度的測量，從而大大改進(jìn)了發(fā)散光束的測量。WB-I 附件與照相機(jī)和 BeamGage 軟件配合使用，可提供實(shí)時(shí)光束形狀分析和可視化，輕松檢測不同電流導(dǎo)致的光束形狀變化。

紫外-可見-近紅外（350 至 1100 nm）波長

通過附帶的 ND 濾光片（ND1 和 ND3）和可變光圈進(jìn)行衰減

可與 CMOS 相機(jī)（需單獨(dú)購買）配合使用

SP90605：WB-I SWIR；寬光束成像儀，Ø45 mm，900 至 1700 nm

SP90612：WB-I VIS；寬光束成像儀，直徑 45 mm，波長 350 至 1100 nm

產(chǎn)地：美國

零件編號(hào)：SP90612

波長：350 至 1100 nm

有效面積：Ø 45 mm

光束尺寸：10 至 45 mm

入射角：< 70°

Min細(xì)節(jié)：0.5 mm

Min可測信號(hào)：100 µW/cm²

Max功率曝光 CW：200 W 無限制，1000 W 1 分鐘

Max能量暴露：ns 脈沖 1.5 J/cm²

支持的成像器凹槽：4.5 mm

適配相機(jī)型號(hào)：SP932U、SP204S

尺寸（長×Ø）：265 × 57 mm

虹膜控制：Ø 73 mm

重量：0.6 kg

含支架重量：0.8 kg

VCSEL 能量分布直接取決于電流、脈沖寬度和重復(fù)率以及設(shè)備溫度等參數(shù)。因此，在制造過程的各個(gè)階段以及研發(fā)和現(xiàn)場服務(wù)中測量 VCSEL 的角度分布至關(guān)重要。VCSEL 在 LIV 掃頻測試中的表現(xiàn)： 當(dāng)只施加小電流時(shí)，VCSEL 處于所謂的 “LED 模式”。一旦施加在 VCSEL 上的電流升高，其光束輪廓就會(huì)變?yōu)?“激光模式”