GET CONTROL 手持式測(cè)試儀E84 HHT是專為半導(dǎo)體 300mm 晶圓廠設(shè)計(jì)的便攜式 E84 接口測(cè)試工具，聚焦于 E84 標(biāo)準(zhǔn)（SEMI E84，晶圓盒傳輸接口協(xié)議）的快速故障診斷與維護(hù)。

主要技術(shù)參數(shù)

內(nèi)置符合 E84 標(biāo)準(zhǔn)的紅外收發(fā)器

DB-25 公頭（有源）和 DB-25 母頭（無(wú)源）端接

續(xù)航：自帶充電電池

存儲(chǔ)：SD閃存卡接口

接口：RS-232 串行通信接口

尺寸：9.3英寸×4.9英寸×1.6英寸（236毫米×125毫米×41毫米）

可靠性：高

功能特點(diǎn)

實(shí)時(shí)信號(hào)可視化：內(nèi)置GCI E84 DLD 數(shù)據(jù)記錄器與RJ-11 光收發(fā)器，實(shí)時(shí)顯示 E84 通信信號(hào)（如 FOUP 加載 / 卸載指令）的時(shí)序圖，支持模擬電壓（DC 電平）與電流的動(dòng)態(tài)測(cè)量，精準(zhǔn)捕捉導(dǎo)致接口故障的信號(hào)毛刺（如 OC 門邏輯異常）。

自動(dòng)化測(cè)試流程：集成E84 模擬器同款標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試套件，支持一鍵執(zhí)行負(fù)載（Load）/ 卸載（Unload）循環(huán)測(cè)試，自動(dòng)提示操作步驟（如 “請(qǐng)插入 FOUP”）并同步倒計(jì)時(shí)，還原設(shè)備驗(yàn)收測(cè)試環(huán)境，確?，F(xiàn)場(chǎng)排查與研發(fā)標(biāo)準(zhǔn)一致。

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析：SD 卡接口支持測(cè)試結(jié)果本地存儲(chǔ)（ASCII 文本 + 二進(jìn)制格式），兼容 GCI E84 分析軟件，可導(dǎo)出至 PC 生成專業(yè)報(bào)告，便于歷史數(shù)據(jù)追溯與批量問(wèn)題分析。

極端環(huán)境適應(yīng)性：電池供電（無(wú)外接電源依賴），支持產(chǎn)線現(xiàn)場(chǎng)離線測(cè)試；防塵抗振設(shè)計(jì)，適應(yīng)晶圓廠潔凈室環(huán)境；操作界面簡(jiǎn)潔，支持單手握持，降低工程師疲勞。

應(yīng)用場(chǎng)景：晶圓廠產(chǎn)線維護(hù)、設(shè)備調(diào)試與驗(yàn)收、遠(yuǎn)程故障支援等。